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Spectrométrie XPS

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Spectromètre XPS Axis Supra+

Description

L’Axis Supra+ est le dernier modèle d’XPS développé par Kratos. Il allie flexibilité et automatisation.

  • Spectroscopie de photoélectrons X haute performance

- Performances spectroscopiques inégalées en grande zone d’analyse

- Détection aisée des éléments légers

- Excellent rapport signal sur bruit, même à faibles concentrations

- Vitesse élevée d’acquisition des spectres en mode snapshot gràce au détecteur DLD

  • Haute résolution en énergie

- Identification sans ambiguïté des déplacements chimiques

- Résolution énergétique garantie sur échantillons isolants et conducteurs

  • Automatisation inégalée de l’instrument

- Échange automatisé des supports d’échantillons pour un fonctionnement en continu de l‘instrument

- Etuvage et dégazage subséquent des filaments contrôlés par ordinateur.

- Automatisation de la source de rayons X et du miroir monochromateur

- Anode motorisée à positions multiples

  • Imagerie parallèle rapide avec une résolution spatiale ultime de 1 µm
  • Cadence d’analyse d'échantillons élevée idéale pour un environnement multi-utilisateurs
  • Logiciel ESCApe polyvalent pour l'acquisition et le traitement de données sous MS Windows

 

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Description

L’Axis Supra+ est le dernier modèle d’XPS développé par Kratos. Il allie flexibilité et automatisation.

  • Spectroscopie de photoélectrons X haute performance

- Performances spectroscopiques inégalées en grande zone d’analyse

- Détection aisée des éléments légers

- Excellent rapport signal sur bruit, même à faibles concentrations

- Vitesse élevée d’acquisition des spectres en mode snapshot gràce au détecteur DLD

  • Haute résolution en énergie

- Identification sans ambiguïté des déplacements chimiques

- Résolution énergétique garantie sur échantillons isolants et conducteurs

  • Automatisation inégalée de l’instrument

- Échange automatisé des supports d’échantillons pour un fonctionnement en continu de l‘instrument

- Etuvage et dégazage subséquent des filaments contrôlés par ordinateur.

- Automatisation de la source de rayons X et du miroir monochromateur

- Anode motorisée à positions multiples

  • Imagerie parallèle rapide avec une résolution spatiale ultime de 1 µm
  • Cadence d’analyse d'échantillons élevée idéale pour un environnement multi-utilisateurs
  • Logiciel ESCApe polyvalent pour l'acquisition et le traitement de données sous MS Windows

 

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