Caractérisation
Spectromètre XPS Axis Supra+
Description
L’Axis Supra+ est le dernier modèle d’XPS développé par Kratos. Il allie flexibilité et automatisation.
- Spectroscopie de photoélectrons X haute performance
- Performances spectroscopiques inégalées en grande zone d’analyse
- Détection aisée des éléments légers
- Excellent rapport signal sur bruit, même à faibles concentrations
- Vitesse élevée d’acquisition des spectres en mode snapshot gràce au détecteur DLD
- Haute résolution en énergie
- Identification sans ambiguïté des déplacements chimiques
- Résolution énergétique garantie sur échantillons isolants et conducteurs
- Automatisation inégalée de l’instrument
- Échange automatisé des supports d’échantillons pour un fonctionnement en continu de l‘instrument
- Etuvage et dégazage subséquent des filaments contrôlés par ordinateur.
- Automatisation de la source de rayons X et du miroir monochromateur
- Anode motorisée à positions multiples
- Imagerie parallèle rapide avec une résolution spatiale ultime de 1 µm
- Cadence d’analyse d'échantillons élevée idéale pour un environnement multi-utilisateurs
- Logiciel ESCApe polyvalent pour l'acquisition et le traitement de données sous MS Windows
- Nos standards
- Description
- Téléchargements
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Description
L’Axis Supra+ est le dernier modèle d’XPS développé par Kratos. Il allie flexibilité et automatisation.
- Spectroscopie de photoélectrons X haute performance
- Performances spectroscopiques inégalées en grande zone d’analyse
- Détection aisée des éléments légers
- Excellent rapport signal sur bruit, même à faibles concentrations
- Vitesse élevée d’acquisition des spectres en mode snapshot gràce au détecteur DLD
- Haute résolution en énergie
- Identification sans ambiguïté des déplacements chimiques
- Résolution énergétique garantie sur échantillons isolants et conducteurs
- Automatisation inégalée de l’instrument
- Échange automatisé des supports d’échantillons pour un fonctionnement en continu de l‘instrument
- Etuvage et dégazage subséquent des filaments contrôlés par ordinateur.
- Automatisation de la source de rayons X et du miroir monochromateur
- Anode motorisée à positions multiples
- Imagerie parallèle rapide avec une résolution spatiale ultime de 1 µm
- Cadence d’analyse d'échantillons élevée idéale pour un environnement multi-utilisateurs
- Logiciel ESCApe polyvalent pour l'acquisition et le traitement de données sous MS Windows
Téléchargements
Fiches techniques
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